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PDL/IL多功能測(cè)試儀
- 產(chǎn)品型號(hào)：PDL-201
- 更新時(shí)間：2024-10-08
- 產(chǎn)品介紹：General Photonics公司的PDL/IL多功能測(cè)試儀（PDL-201）采用大值/小值搜尋法（符合TIA/EIA-455-198標(biāo)準(zhǔn)），能夠?qū)ζ骷钠裣嚓P(guān)損耗（PDL）、插入損耗（IL）、光功率進(jìn)行快速測(cè)量，測(cè)量速度0.2s。該測(cè)試儀工作波長(zhǎng)覆蓋1260～1620nm，在高、低PDL和各種SOP的情況下都能得到精確的測(cè)量結(jié)果。
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General Photonics公司的PDL/IL多功能測(cè)試儀(PDL-201)采用大值/小值搜尋法(符合TIA/EIA-455-198標(biāo)準(zhǔn))，能夠?qū)ζ骷钠裣嚓P(guān)損耗(PDL)、插入損耗(IL)、光功率進(jìn)行快速測(cè)量，測(cè)量速度0.2s。該測(cè)試儀工作波長(zhǎng)覆蓋1260～1620nm，在高、低PDL和各種SOP的情況下都能得到精確的測(cè)量結(jié)果。該測(cè)試儀擁有RS-232、USB 及以太網(wǎng)接口，可以方便地與計(jì)算機(jī)連接，進(jìn)行遠(yuǎn)程控制和數(shù)據(jù)傳輸，是精確、快速測(cè)量無(wú)源器件、DWDM 器件的理想儀器。
主要應(yīng)用：
1、偏振相關(guān)損耗(PDL)的測(cè)量
2、插入損耗(IL)的測(cè)量
3、器件特性監(jiān)測(cè)
PDL/IL多功能測(cè)試儀技術(shù)規(guī)格
PDL-201在1260至1650 nm的波長(zhǎng)范圍內(nèi)工作。它的測(cè)量速度為30毫秒，并且可以在整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)準(zhǔn)確地測(cè)量PDL或IL到±（0.01 + PDL或IL的5％）dB以內(nèi)。PDL-201可以從前面板進(jìn)行控制，也可以通過USB，以太網(wǎng)，RS-232或GPIB接口進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。此外，它還具有用戶可配置的模擬監(jiān)控器電壓輸出，以監(jiān)控PDL值。
與所有Gen2儀器一樣，它具有OLED圖形顯示屏，人體工學(xué)鍵盤和通用電源。